由于采用了內(nèi)部 PMOSFET 架構(gòu)，加上防倒充電路，所以不需要外部檢測電阻器和隔離二極管。熱反饋可對充電電流進行自動調(diào)節(jié)，以便在大功率操作或高環(huán)境溫度條件下對芯片溫度加以限制。充電電流可通過一個電阻器進行外部設置。當電池達到預設電壓之后，充電電流降至設定值1/10，TP4065將自動終止充電。
當輸入電壓（交流適配器或 USB 電源）被拿掉時，TP4065 自動進入一個低電流狀態(tài)，電池漏電流在 1μA 以下。TP4065 的其他特點包括電源自適應、欠壓閉鎖、自動再充電和兩個用于指示充電結(jié)束和輸入電壓接入的狀態(tài)引腳。
特點
? 兼容大小 3mA-600mA的可編程充電電流；
? VCC輸入端反接保護；
? 鋰電池正負極反接保護；
? 電源自適應；
? 具有可在無過熱危險的情況下實現(xiàn)充電速率*大化的熱調(diào)節(jié)功能；
? 帶涓流、恒流、恒壓控制；
? 可直接從 USB端口給電池充電；
? 精度達到±1%的預設充電電壓；
? *高輸入可達 8.0V；
? 自動再充電；
? 1個充電狀態(tài)開漏輸出引腳；
? C/10充電終止；
? 待機模式下的供電電流為 65μA；
? 軟啟動限制了浪涌電流；
? 采用5 引腳SOT-23封裝。
***大額定值
? 輸入電源電壓（VCC）：-6.5V～12V
? PROG：-0.3V～VCC+0.3V
? BAT：-4.35V～8V
? CHRG：-0.3V～10V
? BAT短路持續(xù)時間：連續(xù)
? BAT引腳電流：700mA
? PROG引腳電流：2mA
? *大結(jié)溫：150℃
? 工作環(huán)境溫度范圍：-40℃～85℃
? 貯存溫度范圍：-65℃～125℃
? 引腳溫度（焊接時間 10秒）： 260℃
TP4065測試使用注意事項
1、為保證各種情況下可靠使用，防止尖峰和毛刺電壓引起的芯片損壞，建議 TP4065 應用中 VCC端和 BAT 端分別接 1μF-10μF 的陶瓷電容以及 0.1μF 陶瓷電容，客戶在大
電流400mA及其以上電流充電使用下建議使用較大的4.7-10μF電容以及0.1μF陶瓷電容。所有電容位置須靠近芯片引腳放置，不宜過遠。
2、如需測試TP4065 充電電流，芯片 BAT 端（3 號腳）應直接連接電池正極，不可串聯(lián)電流表，電流表可串在芯片 VCC端。
3、采用 SOT23-6 封裝，大電流應用中（400mA 以上）散熱效果不佳可能引起充電電流受溫度保護而減小。一般客戶可以不接耗散電阻，若電流不能滿足要求，請根據(jù)實
際電源電壓設計熱耗散電阻（耗散電阻不僅可以得到穩(wěn)定的充電電流，而且對整機系統(tǒng)的可靠性也有極大的提升） ，芯片 VCC端輸入電壓在 4.8V 為*佳，可得到較大充電電流，一般熱耗散電阻為 0.3 至 0.6Ω，封裝*好為 1206，功率*好為 0.15W 以上。良好的 PCB板布局可以有效減小客戶在大電流充電應用中溫度對電流的影響。
